Termékek
Szilícium alapú GaN epitaxiális szuszceptor
  • Szilícium alapú GaN epitaxiális szuszceptorSzilícium alapú GaN epitaxiális szuszceptor

Szilícium alapú GaN epitaxiális szuszceptor

A szilícium alapú GaN epitaxiális szuszceptor a GaN epitaxiális termeléséhez szükséges alapvető komponens. A Veteksemicon szilícium alapú GaN epitaxiális szuszceptort kifejezetten szilícium alapú GaN epitaxiális reaktorrendszerhez tervezték, és olyan előnyökkel jár, mint a nagy tisztaság, a kiváló magas hőmérséklet-állóság és a korrózióállóság. Üdvözöljük további konzultációján.

A Vetekseicon szilícium alapú GaN epitaxiális szuszceptor kulcsfontosságú eleme a VEECO K465i GaN MOCVD rendszerének, amely támogatja és melegíti a GaN anyag szilícium szubsztrátját az epitaxiális növekedés során. Ezenkívül a szilícium epitaxiális hordozón lévő GaN nagy tisztaságú,kiváló minőségű grafit anyagszubsztrátumként, amely jó stabilitást és hővezető képességet biztosít az epitaxiális növekedési folyamat során. A szubsztrátum képes ellenállni a magas hőmérsékletű környezetnek, biztosítva az epitaxiális növekedési folyamat stabilitását és megbízhatóságát.


GaN Epitaxial Susceptor

Ⅰ. Kulcsszerepek aEpitaxiális folyamat


(1) Biztosítson stabil platformot az epitaxiális növekedéshez


A MOCVD eljárás során a GaN epitaxiális rétegeket szilícium szubsztrátumokra helyezik fel magas hőmérsékleten (>1000 °C), és a Susceptor felelős a szilícium lapkák szállításáért és a hőmérséklet stabilitás biztosításáért a növekedés során.


A szilícium alapú szuszceptor olyan anyagot használ, amely kompatibilis az Si szubsztrátummal, ami csökkenti a GaN-on-Si epitaxiális réteg vetemedésének és repedésének kockázatát azáltal, hogy minimalizálja a hőtágulási együttható (CTE) eltérései által okozott feszültségeket.




silicon substrate

(2) Optimalizálja a hőeloszlást az epitaxiális egyenletesség biztosítása érdekében


Mivel a hőmérséklet-eloszlás a MOCVD reakciókamrában közvetlenül befolyásolja a GaN kristályosodás minőségét, a SiC bevonat javíthatja a hővezető képességet, csökkentheti a hőmérsékleti gradiens változásait, és optimalizálhatja az epitaxiális rétegvastagságot és az adalékolás egyenletességét.


A nagy hővezető képességű SiC vagy nagy tisztaságú szilícium szubsztrát használata javítja a hőstabilitást és elkerüli a forró pontok kialakulását, így hatékonyan javítja az epitaxiális lapkák hozamát.







(3) A gázáramlás optimalizálása és a szennyeződés csökkentése



Lamináris áramlásszabályozás: Általában a szuszceptor geometriai kialakítása (például a felület síksága) közvetlenül befolyásolhatja a reakciógáz áramlási mintáját. Például a Semixlab Susceptor csökkenti a turbulenciát azáltal, hogy optimalizálja a tervezést, hogy biztosítsa, hogy a prekurzor gáz (például TMGa, NH₃) egyenletesen fedje be az ostya felületét, ezáltal nagymértékben javítja az epitaxiális réteg egyenletességét.


A szennyeződések diffúziójának megelőzése: A szilícium-karbid bevonat kiváló hőkezelésével és korrózióállóságával kombinálva a nagy sűrűségű szilícium-karbid bevonat megakadályozza, hogy a grafit szubsztrátumban lévő szennyeződések az epitaxiális rétegbe diffundáljanak, elkerülve az eszköz teljesítményének szénszennyeződés okozta romlását.



Ⅱ. Fizikai tulajdonságaiIzosztatikus grafit

Az izosztatikus grafit fizikai tulajdonságai
Ingatlan Egység Tipikus érték
Térfogatsűrűség g/cm³ 1.83
Keménység HSD 58
Elektromos ellenállás μΩ.m 10
Hajlító szilárdság MPa 47
Nyomószilárdság MPa 103
Szakítószilárdság MPa 31
Young Modulus GPa 11.8
Hőtágulás (CTE) 10-6K-1 4.6
Hővezetőképesség W·m-1·K-1 130
Átlagos szemcseméret μm 8-10
Porozitás % 10
Ash tartalom ppm ≤10 (tisztítás után)



Ⅲ. Szilícium alapú GaN epitaxiális szuszceptor fizikai tulajdonságai:

Alapvető fizikai tulajdonságaiCVD SiC bevonat
Ingatlan Tipikus érték
Kristályszerkezet FCC β fázisú polikristályos, főleg (111) orientált
Sűrűség 3,21 g/cm³
Keménység 2500 Vickers keménység (500g terhelés)
Szemcseméret 2~10μm
Kémiai tisztaság 99,99995%
Hőkapacitás 640 J·kg-1·K-1
Szublimációs hőmérséklet 2700 ℃
Hajlító szilárdság 415 MPa RT 4 pontos
Young Modulus 430 Gpa 4pt kanyar, 1300 ℃
Hővezetőképesség 300W·m-1·K-1
Hőtágulás (CTE) 4,5×10-6K-1

        Megjegyzés: Bevonás előtt az első tisztítást végezzük, a bevonat után pedig a második tisztítást.


Hot Tags: Szilícium alapú GaN epitaxiális szuszceptor
Kérdés küldése
Elérhetőségei
Ha kérdése van a szilícium-karbid bevonattal, a tantál-karbid bevonattal, a speciális grafittal vagy az árlistával kapcsolatban, kérjük, hagyja nekünk e-mail-címét, és 24 órán belül felvesszük Önnel a kapcsolatot.
X
Cookie-kat használunk, hogy jobb böngészési élményt kínáljunk, elemezzük a webhely forgalmát és személyre szabjuk a tartalmat. Az oldal használatával Ön elfogadja a cookie-k használatát.Adatvédelmi szabályzat
ElutasítElfogadás