Termékek
Szilícium alapú GaN epitaxiális szuszceptor
  • Szilícium alapú GaN epitaxiális szuszceptorSzilícium alapú GaN epitaxiális szuszceptor

Szilícium alapú GaN epitaxiális szuszceptor

A szilícium alapú GaN epitaxiális szuszceptor a GaN epitaxiális termeléséhez szükséges alapvető komponens. A Veteksemicon szilícium alapú GaN epitaxiális szuszceptort kifejezetten szilícium alapú GaN epitaxiális reaktorrendszerhez tervezték, és olyan előnyökkel jár, mint a nagy tisztaság, a kiváló magas hőmérséklet-állóság és a korrózióállóság. Üdvözöljük további konzultációján.

A Vetekseicon szilícium alapú GaN epitaxiális szuszceptor kulcsfontosságú eleme a VEECO K465i GaN MOCVD rendszerének, amely támogatja és melegíti a GaN anyag szilícium szubsztrátját az epitaxiális növekedés során. Ezenkívül a szilícium epitaxiális hordozón lévő GaN nagy tisztaságú,kiváló minőségű grafit anyagszubsztrátumként, amely jó stabilitást és hővezető képességet biztosít az epitaxiális növekedési folyamat során. A szubsztrátum képes ellenállni a magas hőmérsékletű környezetnek, biztosítva az epitaxiális növekedési folyamat stabilitását és megbízhatóságát.


GaN Epitaxial Susceptor

Ⅰ. Kulcsszerepek aEpitaxiális folyamat


(1) Biztosítson stabil platformot az epitaxiális növekedéshez


A MOCVD eljárás során a GaN epitaxiális rétegeket szilícium szubsztrátumokra helyezik fel magas hőmérsékleten (>1000 °C), és a Susceptor felelős a szilícium lapkák szállításáért és a hőmérséklet stabilitás biztosításáért a növekedés során.


A szilícium alapú szuszceptor olyan anyagot használ, amely kompatibilis az Si szubsztrátummal, ami csökkenti a GaN-on-Si epitaxiális réteg vetemedésének és repedésének kockázatát azáltal, hogy minimalizálja a hőtágulási együttható (CTE) eltérései által okozott feszültségeket.




silicon substrate

(2) Optimalizálja a hőeloszlást az epitaxiális egyenletesség biztosítása érdekében


Mivel a hőmérséklet-eloszlás a MOCVD reakciókamrában közvetlenül befolyásolja a GaN kristályosodás minőségét, a SiC bevonat javíthatja a hővezető képességet, csökkentheti a hőmérsékleti gradiens változásait, és optimalizálhatja az epitaxiális rétegvastagságot és az adalékolás egyenletességét.


A nagy hővezető képességű SiC vagy nagy tisztaságú szilícium szubsztrát használata javítja a hőstabilitást és elkerüli a forró pontok kialakulását, így hatékonyan javítja az epitaxiális lapkák hozamát.







(3) A gázáramlás optimalizálása és a szennyeződés csökkentése



Lamináris áramlásszabályozás: Általában a szuszceptor geometriai kialakítása (például a felület síksága) közvetlenül befolyásolhatja a reakciógáz áramlási mintáját. Például a Semixlab Susceptor csökkenti a turbulenciát azáltal, hogy optimalizálja a tervezést, hogy biztosítsa, hogy a prekurzor gáz (például TMGa, NH₃) egyenletesen fedje be az ostya felületét, ezáltal nagymértékben javítja az epitaxiális réteg egyenletességét.


A szennyeződések diffúziójának megelőzése: A szilícium-karbid bevonat kiváló hőkezelésével és korrózióállóságával kombinálva a nagy sűrűségű szilícium-karbid bevonat megakadályozza, hogy a grafit szubsztrátumban lévő szennyeződések az epitaxiális rétegbe diffundáljanak, elkerülve az eszköz teljesítményének szénszennyeződés okozta romlását.



Ⅱ. Fizikai tulajdonságaiIzosztatikus grafit

Az izosztatikus grafit fizikai tulajdonságai
Ingatlan Egység Tipikus érték
Térfogatsűrűség g/cm³ 1.83
Keménység HSD 58
Elektromos ellenállás μΩ.m 10
Hajlító szilárdság MPa 47
Nyomószilárdság MPa 103
Szakítószilárdság MPa 31
Young Modulus GPa 11.8
Hőtágulás (CTE) 10-6K-1 4.6
Hővezetőképesség W·m-1·K-1 130
Átlagos szemcseméret μm 8-10
Porozitás % 10
Ash tartalom ppm ≤10 (tisztítás után)



Ⅲ. Szilícium alapú GaN epitaxiális szuszceptor fizikai tulajdonságai:

Alapvető fizikai tulajdonságaiCVD SiC bevonat
Ingatlan Tipikus érték
Kristályszerkezet FCC β fázisú polikristályos, főleg (111) orientált
Sűrűség 3,21 g/cm³
Keménység 2500 Vickers keménység (500g terhelés)
Szemcseméret 2~10μm
Kémiai tisztaság 99,99995%
Hőkapacitás 640 J·kg-1·K-1
Szublimációs hőmérséklet 2700 ℃
Hajlító szilárdság 415 MPa RT 4 pontos
Young Modulus 430 Gpa 4pt kanyar, 1300 ℃
Hővezetőképesség 300W·m-1·K-1
Hőtágulás (CTE) 4,5×10-6K-1

        Megjegyzés: Bevonás előtt az első tisztítást végezzük, a bevonat után pedig a második tisztítást.


Hot Tags: Szilícium alapú GaN epitaxiális szuszceptor
Kérdés küldése
Elérhetőségei
For inquiries about Silicon Carbide Coating, Tantalum Carbide Coating, Special Graphite or price list, please leave your email to us and we will be in touch within 24 hours.
X
Cookie-kat használunk, hogy jobb böngészési élményt kínáljunk, elemezzük a webhely forgalmát és személyre szabjuk a tartalmat. Az oldal használatával Ön elfogadja a cookie-k használatát.Adatvédelmi szabályzat